測試50cm厚度定位使用21帶支座有時甚至無法看到好的底部反射。
解決思路:看能否改用31帶支座或者42帶支座和更換更大的敲擊錘試下。
按照3.9的回復確定傳感器及激振錘的配置及檢測注意事項。
檢測時如果沒有設置DVC文件或者設置錯誤,則并不會影響檢測時采集的原始數(shù)據(jù)。只會影響我們的解析結果。因此,當出先上述情況時,必須在解析前補充好相應的DVC文件,且相關參數(shù)(放大器使用倍數(shù)及到振源的距離)必須和現(xiàn)場實際情況完全一致。盡管有相應補救措施,但我們還是要求盡量在現(xiàn)場就將相關參數(shù)設置正確,要求操作標準化。
定性檢測時,若出現(xiàn)過多高頻信號,大部分原因是因為激振時,激振錐與鋼絞線之間有滑動導致,此時不但對傳遞函數(shù)法有影響,對全長波速法的起始點選擇也會有影響;其次得看是不是所有或者大部分孔道都是高頻,若是則可根據(jù)混凝土標定,看看受信頻率進行參數(shù)調整,激振時可換敲臨近鋼絞線,接收也可調整位置;若不是,則可能是本身端頭缺陷引起。
解決辦法為:在激振時,使用公司配套的防滑動和二次激振彈簧,或者用大拇指抵住激振錐及鋼絞線連接處,放置其滑動。
1、敲擊后得到的CH0和CH1的波形都能清楚的看見首波,且都有預留區(qū)域;
2、使用“灌漿密實度檢測”功能對采集到的波形進行解析。當受信頻率始終偏高時,可以通過調整傳感器、更改放大器倍數(shù)的方式進行適當調整。
出現(xiàn)灌漿指數(shù)為0時,一般都是受信頻率超過上限4KHz導致的,此時,我們應通過一次解析的BPF功能,人為的將高頻信號過濾掉,一般將上限設置為3或2.5KHz即可;也可參照定性標定的受信頻率,將二次解析中的受信頻率上下限進行調整。但設置后,必須進行人工選點解析,不可再進行自動解析。
細分:需查看是哪個參數(shù)引起的,波速指數(shù)為0,說明孔道不密實可能性較大;振幅指數(shù)為0,查看DVC文件是否設置正確或可通過標定文件調整設置參數(shù);頻率指數(shù)為0,可通過濾波或者通過標定文件調整設置參數(shù)。
我們是以測試面的基準,因此,“距管頂”代表波紋管的上表面到測試面的距離,亦可以理解為波紋管到測試面的保護層厚度;“距梁底端”代表從測試面到腹板對面的距離,即為整個腹板的厚度。當我們需要直觀顯示出波紋管位置的時候,才需要填寫波紋管類型和波紋管直徑。
定位檢測波形的識別,主要原則如下:
1、確保保存的信號為正常敲擊的信號,排除碰撞、標定信號;
被測對象腹板厚度較薄,激振的信號波長應相對較短,如出現(xiàn)波長較長,則需要改變激振錘等進行重新測試;
2、檢測時,敲擊點到傳感器距離一般為該測點厚度的0.25倍;
3、被檢測對象部位為漸變情況時,敲擊部位位于腹板厚度較厚的一側;
4、被檢對象漸變很大時,需兩種激振錘匹配使用,即相對較大的激振錘敲擊漸變區(qū)域厚的一側,較小激振錘敲擊漸變區(qū)域較薄的一側;
5、現(xiàn)場測試完成后,也可通過頻譜分析最終確定信號質量。
不同的激振錘激發(fā)的彈性波波長不同,因此合理選取激振錘或者采用2種激振錘可以提高檢測精度。一般而言,對于較小直徑的激振錘的信號,其在缺陷處的反射相對更為明顯。此時,如梁底反射信號鮮明且有滯后時,該當處存在灌漿缺陷的可能性較大;另一方面,對于較大直徑的激振錘的信號,通常對梁底的反射更為明顯。同樣,如波紋管位置的有明顯反射信號時,該當處存在灌漿缺陷的可能性也較大。
定位檢測時,應在不同梁型、厚度進行激振錘及傳感器的選擇(即在端頭等厚腹板無管道位置進行定點測試,不同激振錘保存相同次數(shù),底部反射信號頻譜集中、穩(wěn)定的配置作為選定配置,且同一設備,在較長時間內再次使用時均需要標定),并在腹板大小里程部位均需標定測試,避免內箱偏位或厚度變化影響結果的判定。
從線性理論而言,激振力度對測試結果沒有影響。但在實際檢測作業(yè)中,力度過大容易誘發(fā)板振動并延長自振的時間。因此,采用較輕的激振力度在大多數(shù)時候是有利的。
1、解析方式
在IEEV法中,精確地確定反射時間對于檢測的分辨力有著非常重要的意義。由于測試距離較短,一般無法在時域上確定,所以采用頻譜分析的方法是必不可少的。目前,在工程領域中最常用的頻譜分析方法是FFT(快速傅立葉變換),然而FFT在IEEV法的分析時面臨分辨率和分辨力不足的困難,因為FFT適合于類正弦波的連續(xù)分析,而對于反射次數(shù)的分析并不擅長。而MEM(最大熵法)對反射時間的確定有較好的分辨力,能夠分辨半周期內的信號頻譜。但MEM在具有卓越的分辨力的同時,也存在偽峰和倍頻的現(xiàn)象。其中,當測試梁體較厚時,除了梁底反射信號之外,在梁截面中部也出現(xiàn)反射信號(即倍頻現(xiàn)象)。該現(xiàn)象盡管較為罕見,但由于該處往往存在波紋管,因此可能造成誤判。
2、縱坐標模式
標準或增強模式主要體現(xiàn)出不同的分辨率,對缺陷反映的敏感度也有所不同。標準模式對缺陷敏感度高于增強模式(主要因為IEEV法判斷缺陷時,利用的特性是底部反射信號的滯后特性)。
3、通過對大量檢測數(shù)據(jù)的總結和經驗的積累,針對不同的壁厚和工況,我們總結了解析及判定方法。在實際分析中,首選標準組合,當有疑問時,應根據(jù)標注進行相應調整。
SAF Coolest v1.3.1.2 設置面板 IEJSD-ZUFY-EFSQE-AQS
無數(shù)據(jù)提示
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